Listar E. POSGRADOS por autor "Laverde Laverde, Helber René"
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Evaluación de niveles de exposición a riesgos asociados al proceso de análisis de sílica cristalina por XRD en la empresa Conhintec S.A.S
Santos Ramírez, Angélica María; Laverde Laverde, Helber René; Palacio Macías, Julián Alberto (Universidad ECCIColombiaPosgrados, 2023-03-16)En la empresa Conhintec S.A.S se realizan procesos de análisis de laboratorio de muestras de diferentes contaminantes, uno de ellos es el análisis de sílice por medio de difracción de rayos X, área de interés en la presente ...